ISO 5458 del 2018: come quotare i pattern di fori

La norma ISO 5458 del 2018 rappresenta una vera e propria rivoluzione nella quotatura di pattern di feature, in quanto ha introdotto nuovi simboli e regole, contraddicendo addirittura alcuni principi del precedente testo del 1998.

Approcci a confronto

I due principali sistemi normativi del disegno definiscono la quotatura dei pattern con delle metodologie differenti. Ad esempio, la norma ASME Y14.5 del 2018 fornisce la seguente definizione di pattern: “Two or more features to which a position or profile geometric tolerance is applied and that are grouped by one of the following methods: nX, n COAXIAL HOLES, ALL AROUND, ALL OVER, simultaneous requirements“. In definitiva, come si nota dalla Figura 1, per definire un pattern di feature vincolate in orientamento e posizione, basta inserire il simbolo nx (4x o 2x).

Nella filosofia ISO la definizione di pattern è completamente diversa: “A pattern is a collection of tolerance zones constrained to each other with or without reference to a datum system which does not lock all degrees of freedom”. In base al principio di indipendenza (vedere ISO 8015: 2011, 5.5), per impostazione predefinita, una specifica geometrica che si applica a più di una singola feature, si applica a tali elementi in modo indipendente. Pertanto, le zone di tolleranza definite da un indicatore di tolleranza o da diversi indicatori di tolleranza devono essere considerate indipendenti per default (anche con la dicitura 4x, i 4 fori della Figura 1 non rappresentano un pattern). Per definire un pattern, occorre utilizzare un modificatore come CZ (Combined Zone, Figura 2).

Figura 2 – Nei disegni ISO le zone di tolleranza definite da un indicatore di tolleranza o da diversi indicatori di tolleranza devono essere considerate indipendenti per default (anche con la dicitura 4x i 4 fori della figura non rappresentano un pattern). Per definire un pattern, occorre utilizzare un modificatore come CZ (Combined Zone).

La norma ASME Y14.5 permette di prescrivere due livelli di controllo di un pattern di fori attraverso la tolleranza di localizzazione “composita”, indicata mediante un doppio riquadro. Esistono infatti molte applicazioni pratiche in cui la localizzazione dei fori rispetto ai datum risulta meno importante rispetto all’errore di interasse o di orientamento del pattern dei fori.

 

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Source: Stampi
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